2013年6月14日（水）～6月16日（金）に開催された「Vision AI Expo 2023年」における弊社のブースにお立ち寄り頂きまして誠にありがとうございました。本展覧会では、弊社の自社製品としてAIを搭載した不良品検出システムが大勢の来場者のの注目を集めました。
展示ブースでは、デジタルトランスフォーメーション促進および経営成長のために、AIに関するソリューション・サービスをご提供いたします。とりわけ、コンピュータビジョンにより、生産ラインに不良品を検出する製造向けのAIソリューションのデモを実施しまして、来場者の関心を集めました。
この度、AIを活用する不良品検出システムの活用事例をご紹介いたします:
製造企業にとって製品の品質を保証することは重要です。製造工程で品質を向上するために欠陥分類を活用することは少なくありません。ところが、手動的に不良品が発生していないかをチェックする伝統的な検査方法は人手と時間が結構かかる他に、エラーを犯しやすいものです。
我々はお客様の課題を解決するためのAIソリューションを推奨しました。それはクラウドプラットフォームで構築され、AIを活用するディスク分類・検査システムです。AI搭載ディスク分類・検査システムは二つのステップを順番に行います。まず、光学計測がディスクの表面に関してのデータを取得します。次に、深層学習を活用するAIシステムはパターンをデータベースと比較して、不良品を自動に検出します。
この数年、AIを活用することで、ワークフローを効率よく、エラーの数を減らしました。
もっと詳しくご覧になりたい方はこちらをクリックください。
改めて弊社のブースにお立ち寄りいただきまして、誠に誠意を申し上げます。今後ともよろしくお願いいたします。
